9/18~21 応用物理学会@名古屋

大学院生が発表します。

X線ナノビームによる1-100反射を用いたGaNナノワイヤ側壁上m面Ga1-xInxN/GaN量子井戸の構造評価 [19p-146-21]

〇近藤 剣1、清木 良麻1、今井 康彦2、隅谷 和嗣2、木村 滋2、高木 健太1、後藤 七美1、市川 貴登1、今井 大地1、上山 智1、宮嶋 孝夫1(1.名城大理工、2.高輝度光科学研究センター)